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表面粗糙度仪

名    称:表面粗糙度仪
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发布日期:2020-7-8 2:24:48
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 粗糙度仪又叫表面粗糙度仪、表面光洁度仪、表面粗糙度检测仪、粗糙度测量仪、粗糙度计、粗糙度测试仪等多种名称。表面粗糙度测量仪KQT110是专用于测量被加工零件表面粗糙度的新型智能化检测仪器。该仪器集当今微处理器技术和传感技术于一体,以先进的微处理器和优选的高度集成化的电路设计,构成适应当今仪器发展趋势的超小型的体系结构,完成粗糙度参数的采集、处理和显示工作。KQT110表面粗糙度仪适用于多种机加工零件、机械加工制造业、检测、商检等部门,尤其适用于大型工件及生产流水线的现场检验,以及检测、计量、商检等部门的外出检定。 
表面粗糙度仪KQT110器特点
    KQT110表面粗糙度仪经过严格高温、湿度试验适应高温高湿工作环境。采用优化的电路设计及传感器结构设计,将电箱、驱动器及显示部分合为一体,使其达到高度集成化;任意选择Ra、Rz、Rt、Rq四种测量参数;不仅可测量平面、直径大于20mm(经验值)的外圆面、锥面,还可测长宽大于80×30mm的沟槽。
表面粗糙度仪KQT110主要功能:
u       可选择4种测量参数Ra、Rz、Rt、Rq;
u       可选择取样长度0.25 ,0.80 ,2.50;
u       广泛用于金属与非金属加工表面的生产现场及外出鉴定的检测;
u       采用高速DSP处理器进行数据处理和计算,速度快,精度更高;
u       点阵LED液晶显示,高亮度,无视角,宽温度,适合各种场合;
u       具有校准功能,操作简单;
u       自动关机功能以及低功耗软硬件设计使仪器工作时间超长;
u       两种充电方式,专用充电器或计算机USB口充电,可边充电边工作,方便快捷;
u       传感器测头具有保护门,有效的保护了传感器测头,保证了测量的精度;
u       外形采用拉铝模具设计,坚固耐用,抗电磁干扰能力显著,符合当今设计新趋势
表面粗糙度仪KQT110主要技术参数:
Ø         测量参数(μm ):Ra、Rz、Rq、Rt
Ø         行程长度(mm):6
Ø         取样长度(mm):0.25 ,0.80 ,2.50
Ø         评定长度(mm):1.25 ,4.0 ,5.0
Ø         测量范围(μm ): 
                Ra、 Rq: 0.01 ~ 10.0
                Rz、 Rt: 0.1 ~ 50
Ø         示值误差:±(7-10)%
Ø         示值变动性: <12%
Ø         传感器触针针尖圆弧半径及角度:
                针尖圆弧半径:10 μm±1 μm
Ø         传感器触针静测力及其变化率:
                触针静测力:    ≤ 0.016N
                测力变化率:    ≤ 800N/m
Ø         传感器导头压力:  ≤ 0.5N
Ø         电池:3.7V锂离子电池
Ø         外形尺寸:106 mm×70 mm×24 mm
Ø         重量:200g
Ø         工作环境条件:
                温    度:  -20℃~40℃
                相对湿度:   <  90%
                周围无振动、无腐蚀性介质
表面粗糙度仪KQT110器部分名称详图:
 
应用领域:
金属与非金属加工制造业
1.表面工程处理
2.模具铸造、精密制造
3.汽车制造及零配件加工
4.机械零部件加工及传动装置机械零部件
5.金属加工设备及机床附件、功能部件
6.冶金冶炼、轧制及锻压设备
7.气动、液压元器件及压力容器
8.通用机械及金属成形设备
粗糙度仪通用数定义:
u       表面粗糙度:是指加工表面上具有较小间距和峰谷所组成的微观几何形状特征。
u       取样长度λc:用于判别具有表面粗糙度特征的一段基准线长度。
u       评定长度:评定轮廓所必须的一段长度,它可以包括一个或几个取样长度。
u       轮廓算术平均偏差Ra :在取样长度内轮廓偏距的算术平均值
u       轮廓均方根偏差Rq:在一个取样长度内纵坐标值的均方根值
u       轮廓最大高度Rz(ISO):在一个取样长度内,最大轮廓峰高Rp和最大轮廓谷深Rv之和的高度;
u       轮廓峰谷总高度Rt:在评定长度内最大轮廓峰高和最大轮廓谷深之和
表面粗糙度仪KQT110给出的参数符合GB/T 3505-2000《产品几何技术规范表面结构轮廓法表面结构的述语、定义及参数》、符合GB/T6062-2002《产品几何量技术规范(GPS)表面结构、轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性》。
附表:取样长度选择推荐表
Ra (µm)
Rz (µm)
取样长度λc(mm)
>5~10
>20~40
2.5
>2.5~5
>10~20
>1.25~2.5
>6.3~10
0.8
>0.63~1.25
>3.2~6.3
>0.32~0.63
>1.6~3.2
>0.25~0.32
>1.25~1.6
0.25
>0.20~0.25
>1.0~1.25
>0.16~0.20
>0.8~1.0
>0.125~0.16
>0.63~0.8
>0.1~0.125
>0.5~0.63
>0.08~0.1
>0.4~0.5
>0.063~0.08
>0.32~0.4
>0.05~0.063
>0.25~0.32
>0.04~0.05
>0.2~0.25
>0.032~0.04
>0.16~0.2
>0.025~0.032
>0.125~0.16
>0.02~0.025
>0.1~0.125
粗糙度仪测量方法
1、干涉法   干涉法是利用光波干涉原理来测量表面粗糙度。 
2、针描法   针描法是利用触针直接在被测表面上轻轻划过,从而测出表面粗糙度的Ra值。   
3、比较法   比较法是车间常用的方法。将被测表面对照粗糙度样板,用肉眼判断或借助于放大镜、比较显微镜比较;也可用手摸,指甲划动的感觉来判断被加工表面的粗糙度。此法一般用于粗糙度参数较大的近似评定。 
 4、光切法  光切法是利用"光切原理"来测量表面粗糙度。

 

 
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