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涂层测厚仪仪器校准方法简述
日期:2013-3-19 11:27:00    阅读:
涂层测厚仪一般是指通过无损检测方式测量涂镀层厚度的仪器,常见有涡流和磁感应涂层测厚仪,其中磁感应涂层测厚仪应用最为广泛。涂层测厚仪仪器使用起来比较简单,其中较为复杂一点的就是仪器校准。仪器校准的程度直接影响测量结果的准确性。涂层测厚仪仪器校准包括仪器校零和校满度两个方面。下面以科强MC-2000系列涂层测厚仪仪器校准作简单说明:
1,仪器校零
校零是指针对铁基的校准,一般用仪器随机铁基试块进行校准。如果方便的话最好用不带涂层的测量体的基体进行校零,这样测量结果更加精确。MC-2000系列涂层测厚仪校零过程:
(1)将测量探头压在校准基体上,再轻按一下校零键ZWRO进行校零。在按ZERO键时,测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意,只有在按完ZERO键后,才能提起探头,否则,校零不正确。
(2)用测量探头重新测量一下基体,仪器显示屏读数应为0,说明校零成功,否则,应得新校零。
2,仪器的校满度是指对标准膜片进行的校准,为了降低测量误差,一般选择和测量涂层厚度相近的标准模块进行校准。
(1)先将与要测量镀层厚度值接近的标准模块放在铁基或者其它不带涂层的测量基体上。
(2)讲仪器测量探头压在标准膜片上,仪器显示屏显示测量数据,若测量值与标准膜片不同,提起测量探头,可通过加1键或减1键来修正测量值。
(3)为了较少测量误差,依照上述方法多次校准同一标准膜片。
(4)对于厚度值差别比较大的涂层的测量,可以选择较为折中的样片进行校准,或者更换多个校准膜片分别校准。
不同厂家或同一厂家不同系列的涂层测厚仪仪器校准不尽相同。以上方法仅供参考,更多涂层测厚仪详情见网站:http://www.kqndt.com/

 
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